集成电路设计创新大会开幕 君鉴科技携多套芯片测试解决方案参展

第三届中国集成电路设计创新大会暨无锡IC应用博览会(ICDIA 2023)于7月13日至7月14日在无锡隆重开幕。

本届ICDIA展会以“应用引领集成电路产业高质量发展”为主题，围绕EDA/IP与IC设计创新、ChatGPT与高算力芯片、汽车电子、射频与无线通信技术、云端半导体、智能家电等内容，探讨IC创新与未来产业应用，吸引了近200家展商参展，为现场2000多名专业观众带来了一场IC设计与芯片应用的顶级盛会。

作为国内测试测量科技服务行业的龙头公司，君鉴科技亮相本次IC博览会，并展出了多套IC测试测量解决方案和产品，为IC相关硬科技企业研发测试提供一站式解决方案。

芯片测试是芯片生产制造过程中非常重要的一环。通过芯片测试，可以有效地发现和解决芯片制造过程中的各种问题和缺陷，保证芯片的质量和可靠性，提高芯片的生产效率和经济效益。

本次展会上，君鉴科技展出的高速数字及IC测试方案吸引了现场众多专业观众参观咨询。其中高速数字测试方案以是德科技UXR0504A示波器为基础，可为AI大模型、IC芯片的高速数据处理要求提供测试能力，满足其严苛的数据传输速率和延时要求;基于罗德与施瓦茨FSW 85频谱分析仪和SMW200A的IC测试方案，则可以提供射频芯片组验证、射频芯片发射信号功率验证、汽车毫米波雷达芯片等测试能力，满足IC芯片测试的多方面要求。

据了解，君鉴科技多年来持续服务半导体&IC芯片产业，已积累深厚的测试测量技术服务经验，可为客户提供包括功率半导体器件特性测试、GPU&FPGA算力芯片信号完整性测试、I-V&C-V参数测试、射频芯片S参数测试、高速数字接口芯片、汽车以太网芯片、DDR芯片的信号完整性测试等多种芯片相关测试方案。

展会现场，君鉴科技还展出了自主开发的一站式仪器信息与服务平台“每日E问”，可为电子测试工程师、教师学生等群体提供包括仪器信息查询、选型推荐、机型对比、行业资讯、应用方案、测试申请、知识交流等多种实用功能在内的一站式信息服务。

深圳君鉴科技股份有限公司创立于2002年，是国内领先的测试仪器综合服务商。公司成立以来，持续深耕芯片/半导体、通信、消费电子、汽车电子等多个产业。君鉴率先开创了测试仪器全生命周期服务模式，提供围绕中高端测试仪器的成套测试解决方案科技租赁服务，包括测试仪器科技服务与租赁、测试仪器选型定型、定向采买销售、测试解决方案制订、仪器使用培训、场景搭建、系统研发、共享实验室、售后等，为硬科技企业提供灵活的测试能力。

目前，君鉴科技已建立起以深圳为总部，辐射北京、上海、西安、成都、武汉、苏州、南京和杭州等17个重点城市的服务网络，为客户提供全面、专业、快捷的精细化、专业化、本土化服务，是行业内唯一一家实现了全国重点区域销售与服务全覆盖的测试仪器综合服务商。

近年来，芯片产业在国内进入高速发展时期，产业环境持续优化，国内IC芯片科研企业如雨后春笋一般涌现。在自主研发、国产化替代的高质量发展浪潮中，作为国家高新技术企业、深圳市专精特新中小企业，君鉴科技也将继续深化IC芯片行业服务能力与技术水平，不断优化和完善各类芯片测试解决方案，提供高质量的研发测试服务，助力国内相关科研企业研发进程，为我国芯片产业的自主生产、自主替代、自主供需贡献力量。