泰瑞达实现向国民技术交付第7000台 J750半导体测试系统的里程碑

全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达 (NASDAQ:TER)今天宣布，向中国领先的微控制器（MCU）和安全类芯片制造商国民技术股份有限公司交付第7000台行业领先J750半导体测试平台。

泰瑞达J750测试机在中国和日本制造，广泛部署于全球领先的半导体芯片制造商，提供包括晶圆测试和用于微控制器、无线设备和图像传感器等的终测方案。J750测试机在提高测试质量、缩短上市时间和降低测试成本方面均达到行业领先水平，实现了更高的吞吐量和更多同测数，缩短了单个工位测试时间并优化了并行测试效率。

国民技术高级副总裁阚玉伦表示：“国民技术成为中国MCU和移动安全领域的领军企业，其中一个重要原因在于我们始终将质量视为第一要务。为确保我们向客户提供最高质量的产品，泰瑞达的J750测试机发挥着不可或缺的作用。凭借顶级性能，J750帮助我们确保最终产品按时按规格发货。”

泰瑞达副总裁 Regan Mills 表示：“泰瑞达进入中国市场已有20多年，我们很荣幸能够成为国民技术信赖的合作伙伴。我们很高兴能与国民技术这样一家极具创新力和影响力的公司分享这一里程碑，他们一直以高品质和可靠性而著称。”

可靠平台和广受好评的软件

泰瑞达的J750系列是用于汽车和消费应用的领先MCU器件测试解决方案，在图像传感器测试领域也处于世界领先地位。汽车半导体供应商依赖J750提供的可重复且可靠的器件测试结果，且利用泰瑞达的广受好评的IG-XL™软件平台，帮助验证对汽车市场至关重要的测试程序 。J750测试平台是半导体制造商追求零缺陷和多工位测试的黄金标准。 

此外，IG-XL软件平台对于快速程序开发也发挥着至关重要的作用。该平台可自动扩展以支持多工位测试，节省大量开发时间和成本，与其他ATE软件系统相比，可将多工位测试程序开发速度提高 30%。